勞厄相機基本原理介紹

勞厄相機是Photonic Science公司的核心產品之一。近期，Photonic Science公司經理Daniel Brau對衍射勞厄相機的工作原理進行系統介紹，并且深入講解了勞厄晶體定向分析系統的*優勢。
 
勞厄技術基本原理
勞厄技術基于反射幾何學，將復色的弱X射線激發源穿過探測器打到樣品上，樣品反射X射線束，形成一組衍射點并直接記錄在探測器上。衍射圖形的參數對于每一個晶體都是特定的，可用于材料分析和物理生長過程分析，切割具有電光特性的晶體。

中心軸校準后的藍寶石樣品勞厄斑點

勞厄衍射到底是什么？
如果我們深入研究一下勞厄相機的物理原理，可以發現實際上是X射線與單晶或者合金上的電子云相互作用。如果反射光滿足布拉格定律，就會被記錄在勞厄探測器上，這是一個相對來說簡單的公式，它允許你根據晶體的特定方向來定位這些點。
布拉格定律：當X射線束的入射角滿足晶面間X射線路徑長度的差值為波長的整數倍時，就會發生相長干涉，產生衍射光束

怎樣得到勞厄衍射圖樣？
假設實驗時，需要沿晶體方向測量 確度＜0.1°的斜切角度。首先，通過理論模擬設計實驗，并檢測記錄相對于理論點位置的偏差。PSEL勞厄軟件內置布拉格方程，可以準確計算晶格三個角軸上定位方程。

PSEL勞厄軟件

 
勞厄系統的主要構架是什么？
PSEL勞厄系包含高亮度微區X射線源，低噪聲、大面積X射線探測器，以及手動或電動位移臺用于放置樣品。之前的勞厄相機多采用2kWX射線源，這需要配備復雜的冷卻裝置和耗電設備，PSEL公司的勞厄系統選用25瓦X射線激發源，有效解決上述問題。
 
可以簡單介紹一下勞厄系統嗎？
PSEL公司的勞厄相機選用更小的X射線激發光源激發樣品，可檢測亞毫米級的樣品。結合大面積、高分辨率探測器，我們可以將定向精度降到0.05°。PSEL公司的勞厄系統的結構設計滿足晶片、大型鑄錠以及渦輪合金等更大的部件使用需求。

垂直勞厄系統

 
PSEL公司的勞厄相機和市場上的其他相機還有什么不同？
PSEL公司的勞厄相機的X射線激發源的光束尺寸遠小于市場上的其他相機，因此可以用于分析晶粒的結構/方向。該系統可以自動獲取多達10000個大型多晶樣品的取向測量，在太陽能電池方面，有助于了解晶粒取向對電池效率的影響。
  

多晶硅晶片掃描器
 

為什么要選用PSEL勞厄相機配件？
PSEL勞厄相機可以根據客戶的環境和要求定制。可提供系統解決方案，例如：樣品架、角度計、掃描臺等，方便用戶在轉移到合適的切割工具前，對晶體進行常規校準。
探測器材料如CdTe，GaAs，微電子基片如GaN，壓電材料和硅片切割可實現批次自動測量。PSEL勞厄相機提供的樣品架可通過軟件一次性采集多達100個樣品。
PSEL勞厄相機可容納10-100kg樣品，可用于激光材料，大體積藍寶石等樣品檢測。
PSEL勞厄相機配置多點掃描程序的高精密位移臺，可以實現對氮化鋁等薄膜方向的控制。
 
勞厄晶體定向系統

 
您還有什么感興趣的嗎？
PSEL公司初期是為科研客戶提供相機，通過多年的市場推廣，已經能面向工業客戶為其提供系統解決方案。不同于老式昂貴的勞厄相機，本產品是為工業定制，目前已有超過200個系統在運行。

如果您對Daniel的問答環節感興趣，想了解更多關于我們勞厄相機的信息，可聯系我公司：北京先鋒泰坦科技有限公司！